Ofer­ta

Rol­tec dys­po­nu­je do­sko­na­le wy­po­sa­żo­nym la­bo­ra­to­rium oraz eks­pe­ry­men­tal­ną li­nią pro­duk­cyj­ną do wy­twa­rza­nia ogniw fo­to­wol­ta­icz­nych w tech­no­lo­gii cien­ko­war­stwo­wej. W ra­mach tych za­so­bów oraz dzię­ki wy­so­ko wy­kwa­li­fi­ko­wa­nej ka­drze spe­cja­li­stów i na­ukow­ców re­ali­zu­je­my za­da­nia zle­co­ne dla pod­mio­tów zewnętrznych.

W ra­mach za­dań zle­co­nych wy­ko­nu­je­my komercyjnie:

  PRA­CE LABORATORYJNE

Na­no­sze­nie cien­kich warstw za po­mo­cą roz­py­la­nia magnetronowego 

Urzą­dze­nie: Mo­or­field MiniLabLT60A

Na­no­sze­nie cien­kich warstw za po­mo­cą pa­ro­wa­nia termicznego 

Urzą­dze­nie: Mo­or­field MiniLabLT80A

Na­no­sze­nie cien­kich warstw za po­mo­cą ką­pie­li chemicznych 

Urzą­dze­nie: W za­leż­no­ści od wymagań

Po­miar trans­mi­sji i od­bi­cia w za­kre­sie 380–1100nm (spek­tro­sko­pia optyczna) 

Urzą­dze­nie: Fil­me­trics F10-RT

Po­mia­ry spek­tro­sko­po­we w sfe­rze całkującej 

Urzą­dze­nie: Rera QE 5000

Po­mia­ry wy­daj­no­ści kwan­to­wej ogniw słonecznych 

Urzą­dze­nie: Rera QE 5000

Po­mia­ry skła­du pier­wiast­ko­we­go sub­stan­cji za po­mo­cą spek­tro­sko­pii plazmowej 

Urzą­dze­nie: Spec­tru­ma GD-OES

Po­mia­ry mor­fo­lo­gii po­wierzch­ni (chro­po­wa­to­ści, to­po­gra­fii, wy­so­ko­ści stopnia) 

Urzą­dze­nie: Fil­me­trics Profilm3D

Po­mia­ry pa­ra­me­trów elek­trycz­nych ma­te­ria­łów wy­so­ko­opo­ro­wych (prze­wod­nic­two, opor­ność na kwadrat) 

Urzą­dze­nie: Mit­su­bi­shi MCP-HT 450

Po­mia­ry spraw­no­ści ogniw fo­to­wol­ta­icz­nych w STC (spek­trum AM1.5G, sy­mu­la­tor kla­sy A+AA)

Urzą­dze­nie: En­li­tech SS-X160R

Ob­ser­wa­cje mi­kro­sko­po­we – mi­kro­skop elek­tro­no­wy, ana­li­za skła­du za po­mo­cą de­tek­to­ra EDS 

Urzą­dze­nie: Ther­mo­Fi­scher InspectF

Po­mia­ry cha­rak­te­ry­styk prą­do­wo-na­pię­cio­wych urzą­dzeń pół­prze­wod­ni­ko­wych (dio­dy, ogni­wa, tran­zy­sto­ry itp.) 

Urzą­dze­nie: Ke­ithe­ly 2600 series

Ana­li­za sta­nu po­wierzch­ni (ener­gia aktywacji) 

Urzą­dze­nie: Mo­bil­ny ana­li­za­tor po­wierzch­ni Kruss

Po­mia­ry XRF (flu­ore­scen­cji rent­gen.) w za­kre­sie 0–50keV

Urzą­dze­nie: Spec­tro XE­POS III

Ana­li­za nu­me­rycz­na wy­ni­ków po­mia­rów optycz­nych (ob­li­cza­nie funk­cji die­lek­tycz­nych), elek­trycz­nych, mor­fo­lo­gii itp. 

Opro­gra­mo­wa­nie wła­sne Roltec

Ob­ser­wa­cje mi­kro­sko­po­we – mi­kro­skop elek­tro­no­wy, tryb SE lub BSE (po­więk­sze­nie, w za­leż­no­ści od ma­te­ia­łu do 100 000x) 

Urzą­dze­nie: Ther­mo­Fi­scher InspectF

Ob­ser­wa­cje mi­kro­sko­po­we – mi­kro­skop optycz­ny (po­więk­sze­nie do 1500x, ob­ser­wa­cje w polu ja­snym i ciemnym) 

Urzą­dze­nie: Ze­iss Axio­lab 5

Mo­de­lo­wa­nie kom­pu­te­ro­we urzą­dzeń pół­prze­wod­ni­ko­wych, pro­ce­sów i spraw­no­ści ogniw słonecznych 

Opro­gra­mo­wa­nie wła­sne Roltec

   USŁU­GI NA URZĄ­DZE­NIACH PI­LO­TA­ŻO­WEJ LI­NII FOTOWOLTAICZNEJ

Struk­tu­ry­za­cja la­se­ro­wa cien­kich warstw za po­mo­cą fal 532nm lub 1064nm. Do­kład­ność xy<30um

Urzą­dze­nie: La­ser pi­ko­se­kun­do­wy MASTER1 GSGP 532 

La­mi­na­cja szkła za po­mo­cą fo­lii EVA (do gru­bo­ści ta­fli 12mm, mak­sy­mal­na gru­bość la­mi­na­tu 50mm) 

Urzą­dze­nie: Fang­ding Mekanika

Po­mia­ry spraw­no­ści mo­du­łów PV w za­kre­sie 0–150V, 0–2A, w wa­run­kach STC 

Urzą­dze­nie: Ho­en­le SOL 2000 RF2 EPS

Po­mia­ry spraw­no­ści mo­du­łów PV (do­wol­ny za­kres do­pusz­czo­ny nor­ma­mi), w wa­run­kach STC 

Urzą­dze­nie: Me­trel 3108 Eu­ro­test PV

Pod­sta­wo­wa ob­rób­ka szkła (maks. for­mat 120x60cm): roz­krój, za­tę­pia­nie brze­gów, wier­ce­nie otwo­rów 5mm 

Urzą­dze­nie: Wier­tar­ka Szkło-tech WD‑1

Ba­da­nia kon­tro­l­no-po­mia­ro­we in­sta­la­cji fotowoltaicznych 

Urzą­dze­nie: Me­trel 3108 Eu­ro­test PV

Za­pra­sza­my do współ­pra­cy! Szcze­gó­ły zle­ceń w tym kosz­ty oma­wia­my pod­czas in­dy­wi­du­al­nych roz­mów z klien­tem.
Kon­takt z la­bo­ra­to­rium: tel. 65 537 39 99 lub biuro@roltec.pl